IEC 61178-1-1993 石英晶体单元.IEC电子元器件质量评定体系规范(IECQ).第1部分:总规范

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【英文标准名称】:Semiconductordevices-HotcarriertestonMOStransistors
【原文标准名称】:半导体器件.MOS晶体管上的热载流子试验
【标准号】:IEC62416-2010
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2010-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;电子设备及元件;寿命;载荷试验;MOS电路;半导体器件;规范(验收);应力;试验;试验条件;晶体管;薄片
【英文主题词】:Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Life(durability);Loadingtests;MOScircuits;Semiconductordevices;Specification(approval);Stress;Testing;Testingconditions;Transistors;Wafers
【摘要】:ThisstandarddescribesthewaferlevelhotcarriertestonNMOSandPMOStransistors.Thetestisintendedtodeterminewhetherthesingletransistorsinacertain(C)MOSprocessmeettherequiredhotcarrierlifetime.
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforEvaluationofGloveEffectsonWearerHandDexterityUsingaModifiedPegboardTest
【原文标准名称】:用改进的有孔板试验评定手套对穿戴者手灵活性影响的标准试验方法
【标准号】:ASTMF2010-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:手套;灵活性;手的功能;有孔板试验
【英文主题词】:Ergonomics;Gloves;Performancetesting;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:C73
【国际标准分类号】:13_180
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语